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超聲波測(cè)厚儀MiniTest 400/400A/400B
高超聲波測(cè)厚儀
高阻抗雙晶探頭
脈沖－回波方式 量程達(dá)0.65-500mm
回波－回波方式(透過(guò)涂層測(cè)量) 量程達(dá)3-25mm
堅(jiān)固的防靜電、防火塑料外殼。
快速測(cè)量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度。
適合實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)使用。
適用于各種板材、管材、油罐、輸油管、鍋爐容器壁厚及其局部腐蝕、銹蝕的檢測(cè)。
適用于煉油、鋼鐵、冶金、造船、***械、化工、電力、原子能等各工業(yè)部門(mén)的產(chǎn)品檢驗(yàn)。
MiniTest 400系列是德國(guó)EPK公司推出的超聲波測(cè)厚儀。該系列產(chǎn)品具有使用簡(jiǎn)便，速度快，可靠性高等特點(diǎn)。
標(biāo)準(zhǔn)配置 可選配置
儀器主*** 小管徑探頭
帶連接電纜的探頭一支 管內(nèi)壁探頭
耦合劑(75ml) 鑄鐵探頭
2節(jié)5號(hào)電池 高溫耦合劑等
通訊電纜，通訊軟件（僅限400A/B）
塑料手提箱
中英文說(shuō)明書(shū)
保修卡
技術(shù)參數(shù)
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項(xiàng)目
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參數(shù)
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400
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400A
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400B
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零位校準(zhǔn)
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開(kāi)***自動(dòng)零位校準(zhǔn)
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測(cè)量參數(shù)
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發(fā)射－回波模式，量程0.65-500mm
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標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量：滿足常用的檢測(cè)要求
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小值測(cè)量：滿足曲面或需要選擇小值的測(cè)量環(huán)境
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差分測(cè)量：顯示實(shí)際測(cè)量值與設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)值的差值
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平均測(cè)量：提供2-9點(diǎn)的測(cè)量平均值
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上下限測(cè)量：極限報(bào)警
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回波－回波模式，量程3-25mm
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透過(guò)涂層測(cè)量基體厚度
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快速掃查模式
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適用于高溫或需要提高測(cè)量速度的測(cè)量環(huán)境，每秒10次的測(cè)量，可以同時(shí)顯示測(cè)量中的值和小值
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數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
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10組5000個(gè)數(shù)據(jù)，動(dòng)態(tài)分配
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數(shù)據(jù)輸出
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USB接口，通過(guò)USB接口上傳儀器中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)到計(jì)算***
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顯示信息
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測(cè)量值，聲速值，探頭型號(hào)，電池電量，當(dāng)前數(shù)據(jù)組
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示值精度
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小于99.99mm時(shí)為0.01mm;大于100mm時(shí)為0.1mm
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單位
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公制/英制
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聲速范圍
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1000m/s - 9999m/s
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增益
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自動(dòng)；手動(dòng)可調(diào)
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聲速測(cè)量
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確定未知聲速材料的聲速，預(yù)置9種常用材料聲速值
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探頭識(shí)別
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自動(dòng)識(shí)別探頭
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關(guān)***選擇
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可選擇2分鐘，5分鐘自動(dòng)關(guān)***或選擇不自動(dòng)關(guān)***
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外形尺寸
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130 × 73 × 24 mm(L×W×H)
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重量
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約190g
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工作溫度
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-20至50攝氏度
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電池
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兩節(jié)5號(hào)電池，電量顯示，電量不足報(bào)警
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工作時(shí)間
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不間斷測(cè)量不少于80小時(shí)
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顯示屏
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128×64 背光
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可選探頭：
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型號(hào)
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晶體直徑
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頻率
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測(cè)量范圍
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工作溫度
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簡(jiǎn)介
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EP8E
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8MM
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5.0MHZ
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3-25MM(E-E)
0.8-300MM(T-E)
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-12～+60℃
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400B標(biāo)配探頭，400B獨(dú)有探頭，具有透過(guò)涂層測(cè)量模式。小測(cè)量管外徑20mm
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EP4
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4MM
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10.0MHZ
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0.65-20MM
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-12～+60℃
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小管徑探頭。小測(cè)量管外徑10mm
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EP6
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6MM
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7.5MHZ
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0.65-50MM
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-12～+60℃
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主要用于薄壁及小弧面的測(cè)量. 小測(cè)量管外徑15mm
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EP8
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8MM
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5.0MHZ
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0.8-350MM
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-12～+60℃
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400,400A標(biāo)配探頭，主要用于測(cè)量表面為平面或者較大弧度的材料。小測(cè)量管外徑20mm
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ECP12
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12MM
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2.0MHZ
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2.0-500MM
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-12～+60℃
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粗晶探頭，主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量。小測(cè)量管外徑30mm
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EHP13
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13MM
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5.0MHZ
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3.0-200MM
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-12～+350℃
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高溫探頭，主要用于測(cè)量溫度小于350℃的材料的測(cè)量，
注：測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S。小測(cè)量管外徑25mm
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